パラメトリック測定ユニット (PMU)
製品とリファレンス・デザイン
パラメトリック測定ユニット (PMU)
概要
TI の IC とリファレンス デザインは、ウェハー、パッケージ、ボードの各レベルで試験を行う、パラメトリック測定ユニット (PMU) の設計と製作に役立ちます。その結果、多数のチャネルに対応する高密度ソリューションを実現すると同時に、チャネル間のばらつきを最小化することができます。
設計要件
次世代の PMU の一般的な設計要件：
- 複数のデータ・アクイジション・チャネルを活用した、最高レベルの速度と精度。
- 測定ドリフトの最小化に役立つ、厳格な温度管理。
- 測定精度の向上につながる、高精度リファレンス電圧の生成。
- SNR (信号雑音比) 性能の最大化に役立つ、低ジッタのクロック・ディストリビューション。
- ボード相互間のスペース最小化につながる、高集積で高さの低いパワー・モジュール。
このアプリケーションの機能を拡張
ブロック図
開発中のシステムに適した製品とリファレンス デザインを検索できます。
技術資料
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
5 をすべて表示
| タイプ | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| アプリケーション概要 | 半導体試験と ATE アプリケーションにおける電源設計の課題解決 (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2026/01/09 | |
| アプリケーション概要 | Precision ADC for Measuring Analog Outputs of Parametric Measurement Unit (PMU) (Rev. B) | PDF | HTML | 2025/01/14 | |||
| アプリケーション・ノート | When to Replace a Relay With a Multiplexer (Rev. A) | PDF | HTML | 2024/06/07 | |||
| アプリケーション概要 | 半導体テスター用の高精度アンプの選択方法 (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2021/03/31 | |
| アプリケーション概要 | Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE | 2019/06/07 |