SN74AC596-Q1

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Automotive, 1.5V to 6.0V 8-bit serial-in and parallel-out shift register

SN74AC596-Q1

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产品详情

Operating temperature range (°C) to Rating Automotive
Operating temperature range (°C) to Rating Automotive
  • 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准:
    • 器件温度等级 1:-40°C 至 +125°C
    • 器件 HBM ESD 分类等级 2
    • 器件 CDM ESD 分类等级 C4B
  • 采用具有可湿性侧面的 QFN 封装
  • 1.5V 至 6V 的宽工作电压范围
  • 输入电压高达 6V
  • 电压为 5V 时,为 ±24mA 的连续输出驱动
  • 电压为 5V 时,支持高达 ±75mA 的输出驱动(短时突发)
  • 驱动 50Ω 传输线
  • 电压为 5V 且负载为 50pF 时的最大 tpd 为 11.4ns
  • 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准:
    • 器件温度等级 1:-40°C 至 +125°C
    • 器件 HBM ESD 分类等级 2
    • 器件 CDM ESD 分类等级 C4B
  • 采用具有可湿性侧面的 QFN 封装
  • 1.5V 至 6V 的宽工作电压范围
  • 输入电压高达 6V
  • 电压为 5V 时,为 ±24mA 的连续输出驱动
  • 电压为 5V 时,支持高达 ±75mA 的输出驱动(短时突发)
  • 驱动 50Ω 传输线
  • 电压为 5V 且负载为 50pF 时的最大 tpd 为 11.4ns

SN74AC596-Q1 器件包含对 8 位 D 类存储寄存器进行馈送的 8 位串行输入、并行输出移位寄存器。存储寄存器具有并行开漏输出。移位寄存器和存储寄存器分别有单独的时钟。移位寄存器具有直接覆盖清零 (SRCLR) 输入、串行 (SER) 输入和用于级联的串行输出 (QH’)。当输出使能 (OE) 输入为高电平时,输出处于高阻抗状态。内部寄存器数据不受 OE 端输入的影响。

SN74AC596-Q1 器件包含对 8 位 D 类存储寄存器进行馈送的 8 位串行输入、并行输出移位寄存器。存储寄存器具有并行开漏输出。移位寄存器和存储寄存器分别有单独的时钟。移位寄存器具有直接覆盖清零 (SRCLR) 输入、串行 (SER) 输入和用于级联的串行输出 (QH’)。当输出使能 (OE) 输入为高电平时,输出处于高阻抗状态。内部寄存器数据不受 OE 端输入的影响。

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设计和开发

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评估板

14-24-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封装的逻辑产品通用评估模块

14-24-LOGIC-EVM 评估模块 (EVM) 设计用于支持采用 14 引脚至 24 引脚 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封装的任何逻辑器件。

用户指南: PDF | HTML
英语版 (Rev.B): PDF | HTML
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评估板

14-24-NL-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚无引线封装的逻辑产品通用评估模块

14-24-EVM 是一款灵活的评估模块 (EVM),旨在支持具有 14 引脚至 24 引脚 BQA、BQB、RGY、RSV、RJW 或 RHL 封装的任何逻辑或转换器件。

用户指南: PDF | HTML
英语版 (Rev.A): PDF | HTML
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支持和培训

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