ZHDA008
December 2025
OPA187
,
OPA192
,
OPA202
,
OPA320
1
摘要
商标
1
简介
1.1
解释不稳定性的简单类比
1.2
可能存在稳定性问题的电路
1.3
基于数据表图的简单稳定性校正
1.4
实验室工具及测量简介
2
运算放大器的稳定性理论
2.1
极点及零点
2.2
运算放大器型号稳定性验证的要求
2.3
基于控制环路型号的稳定性定义
2.4
基于 AOL 及 1/β 绘制环路增益图形
2.5
闭合稳定性测试速率
2.6
间接(无创)稳定性测试
3
开环稳定性测试仿真
3.1
以错误的方式断开循环
3.2
使用 LC 测试电路来断开环路
3.3
差分环路断路测试
4
电容负载的稳定性校正
4.1
隔离电阻器 (RISO) 方法
4.2
双反馈方法
4.2.1
RISO 具有 RL 的双反馈
4.2.2
采用 RFX 方法的双反馈
4.3
用于补偿功率放大器及基准驱动的缓冲器电路
4.4
用于稳定性补偿的噪声增益
4.5
反馈电容器 (CF) 电容负载补偿
5
反相节点上电容的稳定性校正
5.1
由于 1/β 内为零造成的输入电容不稳定性
5.2
反馈电容器可以解决反相节点上电容的稳定性问题
5.3
最小、平衡及最大反馈电容
5.4
互阻抗案例
6
复杂开环及闭环输出阻抗
6.1
将开环输出阻抗转换成闭环输出阻抗
6.2
开环及闭环型号测试
6.3
由于复数输出阻抗的谐振而导致不稳定
6.4
内部运算放大器拓扑对输出阻抗及频率间的影响
6.5
影响输出阻抗的其他因素
7
AOL 对稳定性的影响
7.1
AOL 次级极点及零点
7.2
对 AOL 次级极点与零点以及输入电容进行建模
7.3
解补偿运算放大器及稳定性
7.4
闭环增益对稳定性的影响
8
稳定性分析中的常见问题
9
参考资料
Technical White Paper
运算放大器稳定性理论及补偿方法
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