SN54SC8T541-SEP
- VID 待定
- 抗辐射:
- 在 125°C 下,单粒子锁定 (SEL) 抗扰度高达 43MeV-cm2/mg
- 每个晶圆批次的辐射批次验收测试 (RLAT) 电离辐射总剂量 (TID) 高达 30krad(Si)
- 单粒子瞬变 (SET) 额定值高达 LET = 43MeV-cm2/mg
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1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围
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单电源电压转换器:
-
升压转换:
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1.2V 至 1.8V
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1.5V 至 2.5V
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1.8V 至 3.3V
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3.3V 至 5.0V
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降压转换:
- 5.0V、3.3V、2.5V 至 1.8V
- 5.0V、3.3V 至 2.5V
- 5.0V 至 3.3V
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- 5.5V 容限输入引脚
- 支持标准引脚排列
- 速率高达 150Mbps,具有 5V 或 3.3V VCC
- 闩锁性能超过 250mA,符合 JESD 17 规范
- 增强型航天塑料:
- 受控基线
- Au 键合线和 NiPdAu 铅涂层
- 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
- 一个制造、封装测试厂
- 延长了产品生命周期
- 产品可追溯性
SN54SC8T541-SEP 包含八个具有三态输出的缓冲器。低电平有效输出能够使引脚(OE1 和 OE2)控制所有八个通道,并配置为使输出都必须为低电平才能有效。启用输出后,输出会主动驱动为低电平或高电平。当输出被禁用时,输出被设置为高阻抗状态。输出电平以电源电压 (VCC) 为基准,并支持 1.8V、2.5V、3.3V 和 5V CMOS 电平。
该输入经设计,具有较低阈值电路,支持较低电压 CMOS 输入的升压转换(例如 1.2V 输入转换为 1.8V 输出或 1.8V 输入转换为 3.3V 输出)。此外,5V 容限输入引脚可实现降压转换(例如 3.3V 转 2.5V 输出)。
设计和开发
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评估板
14-24-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封装的逻辑产品通用评估模块
14-24-LOGIC-EVM 评估模块 (EVM) 旨在支持采用 14 引脚至 24 引脚 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封装的任何逻辑器件。
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
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TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点