SN74AUP1G57
- Available in the Texas Instruments NanoStar™
Packages - Low Static-Power Consumption
(ICC = 0.9 µA Maximum) - Low Dynamic-Power Consumption
(Cpd = 4.3 pF Typical at 3.3 V) - Low Input Capacitance (Ci = 1.5 pF Typical)
- Low Noise – Overshoot and Undershoot
<10% of VCC - Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Includes Schmitt-Trigger Inputs
- Wide Operating VCC Range of 0.8 V to 3.6 V
- Optimized for 3.3-V Operation
- 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal
Operation - tpd = 5.3 ns Maximum at 3.3 V
- Suitable for Point-to-Point Applications
- Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per
JESD 78, Class II - ESD Performance Tested Per JESD 22
- 2000-V Human-Body Model
(A114-B, Class II) - 1000-V Charged-Device Model (C101)
- 2000-V Human-Body Model
- APPLICATIONS
- Active Noise Cancellation (ANC)
- Barcode Scanners
- Blood Pressure Monitors
- CPAP Machines
- Cable Solutions
- E-Books
- Embedded PCs
- Field Transmitter: Temperature or Pressure
Sensors - HVAC: Heating, Ventilating, and Air Conditioning
- Network-Attached Storage (NAS)
- Server Motherboard and PSU
- Software Defined Radio (SDR)
- TV: High-Definition (HDTV), LCD, and Digital
- Video Communications Systems
All other trademarks are the property of their respective owners
The SN74AUP1G57 device features configurable multiple functions. The output state is determined by eight patterns of 3-bit input. The user can choose the logic functions AND, OR, NAND, NOR, XNOR, inverter, and noninverter. All inputs can be connected to VCC or GND.
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技术文档
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设计和开发
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评估板
5-8-LOGIC-EVM — 支持 5 至 8 引脚 DCK、DCT、DCU、DRL 和 DBV 封装的通用逻辑评估模块
灵活的 EVM 设计用于支持具有 5 至 8 引脚数且采用 DCK、DCT、DCU、DRL 或 DBV 封装的任何器件。
用户指南: PDF
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
---|---|---|
DSBGA (YZP) | 6 | Ultra Librarian |
SOT-23 (DBV) | 6 | Ultra Librarian |
SOT-5X3 (DRL) | 6 | Ultra Librarian |
SOT-SC70 (DCK) | 6 | Ultra Librarian |
USON (DRY) | 6 | Ultra Librarian |
X2SON (DSF) | 6 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点