产品详情

Number of channels 2 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 5.5 Vs (max) (V) 5.5 Vs (min) (V) 1.5 Rating Automotive Features Fail-safe, Hysteresis, Internal Reference, POR Iq per channel (typ) (mA) 0.002 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 6 Rail-to-rail In Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 15 VICR (max) (V) 5.5 VICR (min) (V) 1.5
Number of channels 2 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 5.5 Vs (max) (V) 5.5 Vs (min) (V) 1.5 Rating Automotive Features Fail-safe, Hysteresis, Internal Reference, POR Iq per channel (typ) (mA) 0.002 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 6 Rail-to-rail In Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 15 VICR (max) (V) 5.5 VICR (min) (V) 1.5
SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² 2.9 x 2.8
  • 符合汽车应用要求

  • 具有符合 AEC-Q100 标准的下列特性:
    • 器件温度等级 1:-40°C 至 125°C的环境工作温度范围
    • 器件 HBM ESD 分级等级 H1C
    • 器件 CDM ESD 分级等级 C4B
  • 宽电源电压范围:1.5V 至 5.5V
  • 采用小型封装的双通道检测器
  • 高阈值精度:工作温度范围内精度为 1%
  • 精密迟滞:60 mV
  • 低静态电流:2 µA(典型值)
  • 温度范围:–40°C 至 +125°C
  • 推挽 (TLV4062-Q1) 和开漏 (TLV4082-Q1) 输出选项
  • 采用 SOT-23 封装
  • 符合汽车应用要求

  • 具有符合 AEC-Q100 标准的下列特性:
    • 器件温度等级 1:-40°C 至 125°C的环境工作温度范围
    • 器件 HBM ESD 分级等级 H1C
    • 器件 CDM ESD 分级等级 C4B
  • 宽电源电压范围:1.5V 至 5.5V
  • 采用小型封装的双通道检测器
  • 高阈值精度:工作温度范围内精度为 1%
  • 精密迟滞:60 mV
  • 低静态电流:2 µA(典型值)
  • 温度范围:–40°C 至 +125°C
  • 推挽 (TLV4062-Q1) 和开漏 (TLV4082-Q1) 输出选项
  • 采用 SOT-23 封装

TLV4062-Q1 和 TLV4082-Q1 是具有低功耗和小解决方案尺寸的高精度双通道比较器系列。IN1 和 IN2 输入都具有用于抑制短时毛刺脉冲的迟滞,从而确保稳定的输出运行,不会引起误触发。

TLV4062-Q1 和 TLV4082-Q1 具有可通过一对外部电阻分压器配置的可调 INx 输入。当 IN1 或 IN2 输入上的电压降至下降阈值以下时,OUT1 或 OUT2 将分别驱动为低电平。当 IN1 或 IN2 上升至上升阈值以上时,OUT1 或 OUT2 将分别驱动为高电平。

该比较器具有 2µA(典型值)的超低静态电流,并且提供了节省空间的低功耗精密电压监测解决方案。TLV4062-Q1 和 TLV4082-Q1 可在–40°C 至 +125°C 的温度范围内以 1.5V 至 5.5V 的电压运行。

TLV4062-Q1 和 TLV4082-Q1 是具有低功耗和小解决方案尺寸的高精度双通道比较器系列。IN1 和 IN2 输入都具有用于抑制短时毛刺脉冲的迟滞,从而确保稳定的输出运行,不会引起误触发。

TLV4062-Q1 和 TLV4082-Q1 具有可通过一对外部电阻分压器配置的可调 INx 输入。当 IN1 或 IN2 输入上的电压降至下降阈值以下时,OUT1 或 OUT2 将分别驱动为低电平。当 IN1 或 IN2 上升至上升阈值以上时,OUT1 或 OUT2 将分别驱动为高电平。

该比较器具有 2µA(典型值)的超低静态电流,并且提供了节省空间的低功耗精密电压监测解决方案。TLV4062-Q1 和 TLV4082-Q1 可在–40°C 至 +125°C 的温度范围内以 1.5V 至 5.5V 的电压运行。

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技术文档

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类型 标题 下载最新的英语版本 日期
* 数据表 TLV4062-Q1、TLV4082-Q1 具有集成基准的双通道、低功耗比较器 数据表 PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2022年 11月 4日
应用简报 使用比较器进行电压监控 PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2023年 10月 12日

设计和开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

评估板

AMP-PDK-EVM — 放大器高性能开发套件评估模块

放大器高性能开发套件 (PDK) 是一款用于测试常见运算放大器参数的评估模块 (EVM) 套件,与大多数运算放大器和比较器均兼容。该 EVM 套件提供了一个主板,主板上具有多个插槽式子卡选项以满足封装需求,使工程师能够快速评估和验证器件性能。

AMP-PDK-EVM 套件支持五种常用的业界通用封装,包括:

  • D(SOIC-8 和 SOIC-14)
  • PW (TSSOP-14)
  • DGK (VSSOP-8)
  • DBV(SOT23-5 和 SOT23-6)
  • DCK(SC70-5 和 SC70-6)
用户指南: PDF | HTML
英语版 (Rev.B): PDF | HTML
评估板

DIP-ADAPTER-EVM — DIP 适配器评估模块

借助 DIP-Adapter-EVM 加快运算放大器的原型设计和测试,该 EVM 有助于快速轻松地连接小型表面贴装 IC 并且价格低廉。您可以使用随附的 Samtec 端子板连接任何受支持的运算放大器,或者将这些端子板直接连接至现有电路。

DIP-Adapter-EVM 套件支持六种常用的业界通用封装,包括:

  • D 和 U (SOIC-8)
  • PW (TSSOP-8)
  • DGK(MSOP-8、VSSOP-8)
  • DBV(SOT23-6、SOT23-5 和 SOT23-3)
  • DCK(SC70-6 和 SC70-5)
  • DRL (SOT563-6)
用户指南: PDF
TI.com 上无现货
仿真模型

PSpice Model for TLV4062

SBVM962.ZIP (19 KB) - PSpice Model
仿真模型

TINA Model for TLV4062

SBVM963.ZIP (3 KB) - TINA-TI Spice Model
模拟工具

PSPICE-FOR-TI — 适用于 TI 设计和模拟工具的 PSpice®

PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用,包括业内超大的模型库之一,涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。

借助 PSpice for TI 的设计和仿真环境及其内置的模型库,您可对复杂的混合信号设计进行仿真。创建完整的终端设备设计和原型解决方案,然后再进行布局和制造,可缩短产品上市时间并降低开发成本。

在 PSpice for TI 设计和仿真工具中,您可以搜索 TI (...)
模拟工具

TINA-TI — 基于 SPICE 的模拟仿真程序

TINA-TI 提供了 SPICE 所有的传统直流、瞬态和频域分析以及更多。TINA 具有广泛的后处理功能,允许您按照希望的方式设置结果的格式。虚拟仪器允许您选择输入波形、探针电路节点电压和波形。TINA 的原理图捕获非常直观 - 真正的“快速入门”。

TINA-TI 安装需要大约 500MB。直接安装,如果想卸载也很容易。我们相信您肯定会爱不释手。

TINA 是德州仪器 (TI) 专有的 DesignSoft 产品。该免费版本具有完整的功能,但不支持完整版 TINA 所提供的某些其他功能。

如需获取可用 TINA-TI 模型的完整列表,请参阅:SpiceRack - 完整列表 

需要 HSpice (...)

用户指南: PDF
英语版 (Rev.A): PDF
封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
SOT-23 (DBV) 6 Ultra Librarian

订购和质量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息:
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

推荐产品可能包含与 TI 此产品相关的参数、评估模块或参考设计。

支持和培训

视频