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LM211-EP

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增强型产品，具有选通信号的差分比较器

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产品详情

Number of channels 1 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.115 Vs (max) (V) 30 Vs (min) (V) 3.5 Rating HiRel Enhanced Product Features Strobe, Vos Adj Pin Iq per channel (typ) (mA) 5.1 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Rail-to-rail No Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 100 VICR (max) (V) 28 VICR (min) (V) 0.5
Number of channels 1 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.115 Vs (max) (V) 30 Vs (min) (V) 3.5 Rating HiRel Enhanced Product Features Strobe, Vos Adj Pin Iq per channel (typ) (mA) 5.1 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Rail-to-rail No Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 100 VICR (max) (V) 28 VICR (min) (V) 0.5
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Fast Response Times
  • Strobe Capability
  • Maximum Input Bias Current . . . 300 nA
  • Maximum Input Offset Current . . . 70 nA
  • Can Operate From Single 5-V Supply

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Fast Response Times
  • Strobe Capability
  • Maximum Input Bias Current . . . 300 nA
  • Maximum Input Offset Current . . . 70 nA
  • Can Operate From Single 5-V Supply

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The LM211-EP is a single high-speed voltage comparator. This device is designed to operate from a wide range of power-supply voltages, including ±15-V supplies for operational amplifiers and 5-V supplies for logic systems. The output levels are compatible with most TTL and MOS circuits. This comparator is capable of driving lamps or relays and switching voltages up to 50 V at 50 mA. All inputs and outputs can be isolated from system ground. The outputs can drive loads referenced to ground, VCC+ or VCC-. Offset balancing and strobe capabilities are available, and the outputs can be wired-OR connected. If the strobe is low, the output is in the off state, regardless of the differential input.

The LM211-EP is a single high-speed voltage comparator. This device is designed to operate from a wide range of power-supply voltages, including ±15-V supplies for operational amplifiers and 5-V supplies for logic systems. The output levels are compatible with most TTL and MOS circuits. This comparator is capable of driving lamps or relays and switching voltages up to 50 V at 50 mA. All inputs and outputs can be isolated from system ground. The outputs can drive loads referenced to ground, VCC+ or VCC-. Offset balancing and strobe capabilities are available, and the outputs can be wired-OR connected. If the strobe is low, the output is in the off state, regardless of the differential input.
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类型 标题 下载最新的英语版本 日期
* 数据表 LM211-EP 数据表 (Rev. A) 2006年 2月 22日
* VID LM211-EP VID V6203638 2016年 6月 21日
* 辐射与可靠性报告 LM211MDREP Reliability Report 2012年 5月 7日
电子书 The Signal e-book: 有关运算放大器设计主题的博客文章汇编 英语版 2018年 1月 31日

设计和开发

如需其他信息或资源，请点击以下任一标题进入详情页面查看（如有）。

评估板

AMP-PDK-EVM — 放大器高性能开发套件评估模块

放大器高性能开发套件 (PDK) 是一款用于测试常见运算放大器参数的评估模块 (EVM) 套件，与大多数运算放大器和比较器均兼容。该 EVM 套件提供了一个主板，主板上具有多个插槽式子卡选项以满足封装需求，使工程师能够快速评估和验证器件性能。

AMP-PDK-EVM 套件支持五种常用的业界通用封装，包括：

  • D（SOIC-8 和 SOIC-14）
  • PW (TSSOP-14)
  • DGK (VSSOP-8)
  • DBV（SOT23-5 和 SOT23-6）
  • DCK（SC70-5 和 SC70-6）
用户指南: PDF | HTML
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模拟工具

PSPICE-FOR-TI — 适用于 TI 设计和模拟工具的 PSpice®

PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用，包括业内超大的模型库之一，涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。

借助 PSpice for TI 的设计和仿真环境及其内置的模型库，您可对复杂的混合信号设计进行仿真。创建完整的终端设备设计和原型解决方案，然后再进行布局和制造，可缩短产品上市时间并降低开发成本。

在 PSpice for TI 设计和仿真工具中，您可以搜索 TI (...)
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模拟工具

TINA-TI — 基于 SPICE 的模拟仿真程序

TINA-TI 提供了 SPICE 所有的传统直流、瞬态和频域分析以及更多。TINA 具有广泛的后处理功能，允许您按照希望的方式设置结果的格式。虚拟仪器允许您选择输入波形、探针电路节点电压和波形。TINA 的原理图捕获非常直观 - 真正的“快速入门”。

TINA-TI 安装需要大约 500MB。直接安装，如果想卸载也很容易。我们相信您肯定会爱不释手。

TINA 是德州仪器 (TI) 专有的 DesignSoft 产品。该免费版本具有完整的功能，但不支持完整版 TINA 所提供的某些其他功能。

如需获取可用 TINA-TI 模型的完整列表，请参阅：SpiceRack - 完整列表 

需要 HSpice (...)

用户指南: PDF
英语版 (Rev.A): PDF
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封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
应遵守 TI 评估类商品的标准条款与条件。

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  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息：
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

推荐产品可能包含与 TI 此产品相关的参数、评估模块或参考设计。

支持和培训

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