SN54SC8T151-SEP
- 提供供应商项目图,VID V62/25634-01XE
- 辐射 - 总电离剂量 (TID):
- TID 特征值高达 50krad (Si)
- TID 性能保证高达 30krad (Si)
- 每个晶圆批次的辐射批次验收测试 (RLAT) 高达 30krad (Si)
- 辐射 - 单粒子效应 (SEE):
- 在 125°C 下,单粒子锁定 (SEL) 抗扰度高达 50MeV-cm2/mg
- 单粒子瞬变 (SET) 额定值高达 LET = 50MeV-cm2/mg
-
1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围
-
单电源电压转换器:
-
升压转换:
-
1.2V 至 1.8V
-
1.5V 至 2.5V
-
1.8V 至 3.3V
-
3.3V 至 5.0V
-
-
降压转换:
- 5.0V、3.3V、2.5V 至 1.8V
- 5.0V、3.3V 至 2.5V
- 5.0V 至 3.3V
-
- 5.5V 容限输入引脚
- 支持标准引脚排列
- 速率高达 150Mbps,具有 5V 或 3.3V VCC
- 闩锁性能超过 250mA,符合 JESD 17 规范
- 增强型航天塑料:
- 支持国防与航空航天应用
- 受控基线
- Au 键合线和 NiPdAu 铅涂层
- 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
- 一个制造、封装和测试基地
- 延长了产品生命周期
- 产品可追溯性
SN54SC8T151-SEP 数据选择器/多路复用器支持完整二进制解码,可从八个数据源中选择其中一个。选通 (G) 输入必须设为逻辑低电平,才能启用输入。将选通端子设为高电平,会强制标准输出端 (Y) 输出低电平,反相输出端 (W) 输出高电平。
技术文档
未找到结果。请清除搜索并重试。
查看全部 4 类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | 数据表 | SN54SC8T151-SEP 抗辐射,8 线至 1 线数据选择器/多路复用器 数据表 | PDF | HTML | 英语版 | PDF | HTML | 2025年 2月 3日 |
* | 辐射与可靠性报告 | SN54SC8T138-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2025年 2月 20日 | ||
* | 辐射与可靠性报告 | SN54SC8T151-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2025年 2月 20日 | ||
* | 辐射与可靠性报告 | SN54SC8T151-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2025年 2月 19日 |
设计和开发
如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。
评估板
14-24-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封装的逻辑产品通用评估模块
14-24-LOGIC-EVM 评估模块 (EVM) 设计用于支持采用 14 引脚至 24 引脚 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封装的任何逻辑器件。
评估板
14-24-NL-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚无引线封装的逻辑产品通用评估模块
14-24-EVM 是一款灵活的评估模块 (EVM),旨在支持具有 14 引脚至 24 引脚 BQA、BQB、RGY、RSV、RJW 或 RHL 封装的任何逻辑或转换器件。
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
---|---|---|
TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点