TLV1704-SEP
- VID V62/18613
- 耐辐射
- 单粒子闩锁 (SEL) 在 125°C 下的抗扰度可达 43MeV-cm2/mg
- 在 30 krad(Si) 的条件下无 ELDRS
- 每个晶圆批次的 RLAT 总电离剂量 (TID) 高达 20krad(Si)
- 增强型航天塑料
- 受控基线
- 金线
- NiPdAu 铅涂层
- 一个组装和测试基地
- 一个制造基地
- 支持军用(–55°C 至 125°C)温度范围
- 延长了产品生命周期
- 延长了产品变更通知
- 产品可追溯性
- 采用增强型模塑化合物实现低释气
- 电源电压范围:2.2V 至 36V 或 ±1.1V 至 ±18V
- 低静态电流:每个比较器 55µA
- 输入共模范围包括两个电源轨
- 低传播延迟:560ns
- 低输入失调电压:300µV
- 集电极开路输出:
- 最多可高出负电源电压 36V 且不受电源电压影响
- 小型封装:
- 四通道:TSSOP-14
TLV1704-SEP(四路)器件具有宽电源电压范围、轨到轨输入、低静态电流和低传播延迟。凭借符合行业标准且在极小型封装内集成的上述特性,此类器件成为当前市场中的最佳通用比较器。
集电极开路输出带来了能够将输出拉至任意电压轨(最多可高出负电源 36V)且不受 TLV1704-SEP 电源电压影响的优势。
此器件是一款微功耗比较器。低输入失调电压、低输入偏置电流、低电源电流和集电极开路配置使 TLV1704-SEP 器件能够灵活处理从简单电压检测到驱动单个继电器的大部分应用。
技术文档
设计和开发
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AMP-PDK-EVM — 放大器高性能开发套件评估模块
放大器高性能开发套件 (PDK) 是一款用于测试常见运算放大器参数的评估模块 (EVM) 套件,与大多数运算放大器和比较器均兼容。该 EVM 套件提供了一个主板,主板上具有多个插槽式子卡选项以满足封装需求,使工程师能够快速评估和验证器件性能。
AMP-PDK-EVM 套件支持五种常用的业界通用封装,包括:
- D(SOIC-8 和 SOIC-14)
- PW (TSSOP-14)
- DGK (VSSOP-8)
- DBV(SOT23-5 和 SOT23-6)
- DCK(SC70-5 和 SC70-6)
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在 PSpice for TI 设计和仿真工具中,您可以搜索 TI (...)
TINA-TI — 基于 SPICE 的模拟仿真程序
TINA-TI 安装需要大约 500MB。直接安装,如果想卸载也很容易。我们相信您肯定会爱不释手。
TINA 是德州仪器 (TI) 专有的 DesignSoft 产品。该免费版本具有完整的功能,但不支持完整版 TINA 所提供的某些其他功能。
如需获取可用 TINA-TI 模型的完整列表,请参阅:SpiceRack - 完整列表
需要 HSpice (...)
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
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TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
订购和质量
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
- 制造厂地点
- 封装厂地点
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