TPD4E1B06
- 超低漏电流为 0.5nA（最大值）
- 针对 4 条 I/O 线路的瞬态保护：
- IEC 61000-4-2 接触放电 ±12kV
- IEC 61000-4-2 空气间隙放电 ±15kV
- IEC 61000-4-5 浪涌 3.0A (8/20µs)
- I/O 电容 0.7pF（典型值）
- 双向 ESD 保护二极管阵列
- 低 ESD 钳位电压
- 工业级温度范围：-40°C 至 125°C
- 易于布线的小型 DRL 和 DCK 封装
TPD4E1B06 是一款 4 通道双向静电放电 (ESD) 保护二极管阵列。这款器件具有超低漏电流 (0.5nA)，可实现精确模拟测量。±12kV 接触和 ±15kV 空气间隙 ESD 保护超过 IEC 61000-4-2 4 级要求。TPD4E1B06 器件的 0.7pF 线路电容值使其非常适合精密模拟、USB2.0、以太网、SATA、LVDS 和 1394 接口等应用。
技术文档
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|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | TPD4E1B06 4 通道超低泄漏 ESD 保护器件 数据表 (Rev. E) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.E) | PDF | HTML | 2024年 10月 11日 |
| 用户指南 | 阅读并了解 ESD 保护数据表 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 9月 22日 | |
| 应用手册 | ESD 包装和布局指南 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 9月 14日 | |
| 选择指南 | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| 用户指南 | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 9月 27日 | |||
| 白皮书 | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 |
设计和开发
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评估板
ESDEVM — ESD 评估模块
静电敏感器件 (ESD) 评估模块 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 产品系列的开发平台。为了测试任何型号的器件，该电路板支持所有传统的 ESD 封装结构。器件可以焊接到相应封装结构，然后进行测试。如果是典型的高速 ESD 二极管，则应采用阻抗受控布局来获取 S 参数并剥离电路板引线。如果是非高速 ESD 二极管，则应采用有布线连接到测试点的封装结构，以便轻松运行直流测试，例如击穿电压、保持电压、漏电流等。该电路板布局布线还可以通过将信号引脚短接至信号所在的位置，轻松地将任何器件引脚连接到电源 (VCC) 或地。
| 封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOT-5X3 (DRL) | 6 | Ultra Librarian |
| SOT-SC70 (DCK) | 6 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息：
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息：
- 制造厂地点
- 封装厂地点
推荐产品可能包含与 TI 此产品相关的参数、评估模块或参考设计。