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D タイプ・ラッチ

SN54HC373-SP

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3 ステート出力、オクタル D タイプ・トランスペアレント・ラッチ

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製品詳細

Number of channels 8 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 28 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
Number of channels 8 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 28 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
CDIP (J) 20 167.464 mm² 24.2 x 6.92 CFP (W) 20 90.5828 mm² 13.09 x 6.92
  • 広い動作電圧範囲：2V～6V
  • 大電流 3 ステート出力により最大 15 個の LSTTL 負荷を駆動可能
  • 低消費電力、最大 ICC：80µA
  • tpd = 13ns (標準値)
  • 5V で ±6mA の出力駆動能力
  • 小さい入力電流、最大 1µA
  • 8 個の大電流ラッチを 1 つのパッケージに搭載
  • 読み込み時の完全並列アクセス
  • 広い動作電圧範囲：2V～6V
  • 大電流 3 ステート出力により最大 15 個の LSTTL 負荷を駆動可能
  • 低消費電力、最大 ICC：80µA
  • tpd = 13ns (標準値)
  • 5V で ±6mA の出力駆動能力
  • 小さい入力電流、最大 1µA
  • 8 個の大電流ラッチを 1 つのパッケージに搭載
  • 読み込み時の完全並列アクセス

これらの 8 ビット ラッチは、大きな容量性負荷または比較的低いインピーダンスの負荷の駆動用に設計された 3 ステート出力を備えています。特に、バッファ レジスタ、I/O ポート、双方向バス ドライバ、作業レジスタの実装に適しています。

’HC373 デバイスの 8 つのラッチは、トランスペアレント D タイプ ラッチです。ラッチ イネーブル (LE) 入力が HIGH の場合、Q 出力はデータ (D) 入力に従います。LE を LOW にすると、D 入力で設定されたレベルで Q 出力がラッチされます。

これらの 8 ビット ラッチは、大きな容量性負荷または比較的低いインピーダンスの負荷の駆動用に設計された 3 ステート出力を備えています。特に、バッファ レジスタ、I/O ポート、双方向バス ドライバ、作業レジスタの実装に適しています。

’HC373 デバイスの 8 つのラッチは、トランスペアレント D タイプ ラッチです。ラッチ イネーブル (LE) 入力が HIGH の場合、Q 出力はデータ (D) 入力に従います。LE を LOW にすると、D 入力で設定されたレベルで Q 出力がラッチされます。
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技術資料

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* データシート SNx4HC373 3 ステート出力、オクタル・トランスペアレント D タイプ・ラッチ データシート (Rev. G 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.G) PDF | HTML 2025年 3月 4日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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