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SN54SC8T139-SEP

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具有逻辑电平转换器的抗辐射双通道二线至四线解码器/多路信号分离器

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SN54SC8T139-SEP

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产品详情

Technology family SCxT Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
Technology family SCxT Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • 提供供应商项目图，VID V62/25623-01XE
  • 辐射 - 总电离剂量 (TID)：
    • TID 特征值高达 50krad (Si)
    • TID 性能保证高达 30krad (Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试 (RLAT) 高达 30krad (Si)
  • 辐射 - 单粒子效应 (SEE)：
    • 在 125°C 下，单粒子锁定 (SEL) 抗扰度高达 50MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值高达 LET = 50MeV-cm2/mg

  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围

  • 单电源电压转换器：

    • 升压转换：

      • 1.2V 至 1.8V

      • 1.5V 至 2.5V

      • 1.8V 至 3.3V

      • 3.3V 至 5.0V

    • 降压转换：

      • 5.0V、3.3V、2.5V 至 1.8V
      • 5.0V、3.3V 至 2.5V
      • 5.0V 至 3.3V
  • 5.5V 容限输入引脚
  • 支持标准引脚排列
  • 速率高达 150Mbps，具有 5V 或 3.3V VCC
  • 闩锁性能超过 250mA，符合 JESD 17 规范
  • 增强型航天塑料：
    • 支持国防与航空航天应用
    • 受控基线
    • Au 键合线和 NiPdAu 铅涂层
    • 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
    • 一个制造、封装和测试基地
    • 延长了产品生命周期
    • 产品可追溯性
  • 提供供应商项目图，VID V62/25623-01XE
  • 辐射 - 总电离剂量 (TID)：
    • TID 特征值高达 50krad (Si)
    • TID 性能保证高达 30krad (Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试 (RLAT) 高达 30krad (Si)
  • 辐射 - 单粒子效应 (SEE)：
    • 在 125°C 下，单粒子锁定 (SEL) 抗扰度高达 50MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值高达 LET = 50MeV-cm2/mg

  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围

  • 单电源电压转换器：

    • 升压转换：

      • 1.2V 至 1.8V

      • 1.5V 至 2.5V

      • 1.8V 至 3.3V

      • 3.3V 至 5.0V

    • 降压转换：

      • 5.0V、3.3V、2.5V 至 1.8V
      • 5.0V、3.3V 至 2.5V
      • 5.0V 至 3.3V
  • 5.5V 容限输入引脚
  • 支持标准引脚排列
  • 速率高达 150Mbps，具有 5V 或 3.3V VCC
  • 闩锁性能超过 250mA，符合 JESD 17 规范
  • 增强型航天塑料：
    • 支持国防与航空航天应用
    • 受控基线
    • Au 键合线和 NiPdAu 铅涂层
    • 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
    • 一个制造、封装和测试基地
    • 延长了产品生命周期
    • 产品可追溯性

SN54SC8T139-SEP 包含两个 2 线至 4 线解码器，具有一个低电平有效的输出选通 G。当一个通道的输出受到选通输入控制时，所有输出强制进入高电平状态。当选通输入未禁用输出时，只有选定输出为低电平，而所有其他输出为高电平。

SN54SC8T139-SEP 包含两个 2 线至 4 线解码器，具有一个低电平有效的输出选通 G。当一个通道的输出受到选通输入控制时，所有输出强制进入高电平状态。当选通输入未禁用输出时，只有选定输出为低电平，而所有其他输出为高电平。
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技术文档

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类型 标题 下载最新的英语版本 日期
* 数据表 SN54SC8T139-SEP 耐辐射双通道 2 位至 4 位解码器/多路信号分离器 数据表 PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2025年 1月 28日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC8T139-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2025年 2月 21日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC8T138-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 2025年 2月 20日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC8T139-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2025年 2月 18日

设计和开发

如需其他信息或资源，请点击以下任一标题进入详情页面查看（如有）。

评估板

14-24-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封装的逻辑产品通用评估模块

14-24-LOGIC-EVM 评估模块 (EVM) 设计用于支持采用 14 引脚至 24 引脚 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封装的任何逻辑器件。

用户指南: PDF | HTML
英语版 (Rev.B): PDF | HTML
TI.com 上无现货
评估板

14-24-NL-LOGIC-EVM — 采用 14 引脚至 24 引脚无引线封装的逻辑产品通用评估模块

14-24-EVM 是一款灵活的评估模块 (EVM)，旨在支持具有 14 引脚至 24 引脚 BQA、BQB、RGY、RSV、RJW 或 RHL 封装的任何逻辑或转换器件。

用户指南: PDF | HTML
英语版 (Rev.A): PDF | HTML
TI.com 上无现货
封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian
应遵守 TI 评估类商品的标准条款与条件。

订购和质量

包含信息：
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息：
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

支持和培训

视频