TLV3701-EP
- Controlled Baseline
- One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
- Extended Temperature Performance of –40°C to 125°C
- Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
- Enhanced Product-Change Notification
- Qualification Pedigree
- Low Supply Current . . . 560 nA
- Input Common-Mode Range Exceeds the Rails . . . –0.1 V to VCC + 5 V
- Supply Voltage Range . . . 2.7 V to 16 V
- Reverse Battery Protection Up to 18 V
- Push-Pull CMOS Output Stage
- Ultrasmall Packaging
- 5-Pin SOT-23
- Universal Op-Amp EVM (Reference SLOU060 for more information)
- APPLICATIONS
- Portable Battery Monitoring
- Security Detection Systems
Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
The TLV3701 is part of Texas Instruments first family of nanopower comparator with only 560 nA supply current, which make this device ideal for low power applications.
The TLV3701 has a minimum operating supply voltage of 2.7 V over the extended temperature range TA = 40°C to 125°C, while having an input common-mode range of 0.1 to VCC + 5 V. The low supply current makes it an ideal choice for battery powered portable applications where quiescent current is the primary concern. Reverse battery protection guards the amplifier from an over-current condition due to improper battery installation. For harsh environments, the inputs can be taken 5 V above the positive supply rail without damage to the device. This device is available in the small SOT-23 package. Other package options may be made available upon request.
技术文档
类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
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* | 数据表 | TLV3701-EP: Nanopower Push-Pull Output Comparator 数据表 | 2003年 5月 30日 | |||
* | VID | TLV3701-EP VID V6204726 | 2016年 6月 21日 | |||
电子书 | The Signal e-book: 有关运算放大器设计主题的博客文章汇编 | 英语版 | 2018年 1月 31日 |
设计和开发
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放大器高性能开发套件 (PDK) 是一款用于测试常见运算放大器参数的评估模块 (EVM) 套件,与大多数运算放大器和比较器均兼容。该 EVM 套件提供了一个主板,主板上具有多个插槽式子卡选项以满足封装需求,使工程师能够快速评估和验证器件性能。
AMP-PDK-EVM 套件支持五种常用的业界通用封装,包括:
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- DCK(SC70-5 和 SC70-6)
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需要 HSpice (...)
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
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SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
订购和质量
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