SN54SC8T240-SEP
- VID (Vendor Item Drawing) V62/25630-01XE が利用可能
- 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID)：
- 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
- 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
- すべてのウェハー ロットに対する 30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
- 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
- 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
- シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)
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幅広い動作範囲：1.2V～5.5V
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単一電源電圧レベル シフタ：
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昇圧変換：
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1.2V～1.8V
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1.5V～2.5V
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1.8V～3.3V
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3.3V～5.0V
-
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降圧変換：
- 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
- 5.0V、3.3V から 2.5V
- 5.0V～3.3V
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- 5.5V 耐圧入力ピン
- 標準ピン配置をサポート
- 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
- JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
- 宇宙用強化プラスチック
- 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
- 管理されたベースライン
- Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
- 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 製品のトレーサビリティ
SN54SC8T240-SEP デバイスは、3 ステート出力を備えた 8 つの独立した反転ライン ドライバで構成されています。各チャネルはブール関数 Y = A を正論理で実行します。チャネルは 4 つ 1 組に分けられ、各組を 1 本の OE ピンで制御できます。対応する OE ピンに HIGH を印加することで、出力をハイ インピーダンス状態にできます。
技術資料
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4 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | SN54SC8T240-SEP 、耐放射線特性、3 ステート出力、反転型、オクタル バッファ / ドライバ データシート | PDF | HTML | 英語版 | PDF | HTML | 2025年 1月 28日 |
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC8T240-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2025年 2月 21日 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC8T240-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2025年 2月 20日 | |||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC8T541-SEP Single Event Effects Report | PDF | HTML | 2025年 1月 16日 |
設計および開発
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評価ボード
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点