TMUX122-SEP

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SOT-23-THN (DYY) 16 8.4 mm² (4.2 mm × 2 mm)
  • VID CCCC
  • 增强型航天塑料
    • 支持国防与航空航天应用
    • 工作温度范围为 –55°C 至 +125°C
    • 受控基线
    • Au(金)键合线和 NiPdAu 引线涂层
    • 制造、封装测试一体化基地
    • 延长了产品生命周期
    • 产品可追溯性
    • 采用增强型模塑化合物实现低释气
    • 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
  • 电离辐射总剂量额定值为 30krad (Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试总电离剂量 (TID RLAT) 额定值高达 30krad (Si)
  • 单粒子效应 (SEE) 特性:
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于 47MeV-cm2/mg 的线性能量传递 (LET) 具有抗扰性
    • 可提供单粒子瞬态 (SET) 表征报告
  • 单电源电压范围:5V 至 15V
  • 双电源电压范围:高达 ±6V
  • 低电容:3pF
  • 双向信号路径
  • 轨到轨运行
  • 兼容 1.8V 逻辑电平
  • 先断后合开关
  • ESD 保护 HBM:2000V
  • VID CCCC
  • 增强型航天塑料
    • 支持国防与航空航天应用
    • 工作温度范围为 –55°C 至 +125°C
    • 受控基线
    • Au(金)键合线和 NiPdAu 引线涂层
    • 制造、封装测试一体化基地
    • 延长了产品生命周期
    • 产品可追溯性
    • 采用增强型模塑化合物实现低释气
    • 符合 NASA ASTM E595 释气规格要求
  • 电离辐射总剂量额定值为 30krad (Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试总电离剂量 (TID RLAT) 额定值高达 30krad (Si)
  • 单粒子效应 (SEE) 特性:
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于 47MeV-cm2/mg 的线性能量传递 (LET) 具有抗扰性
    • 可提供单粒子瞬态 (SET) 表征报告
  • 单电源电压范围:5V 至 15V
  • 双电源电压范围:高达 ±6V
  • 低电容:3pF
  • 双向信号路径
  • 轨到轨运行
  • 兼容 1.8V 逻辑电平
  • 先断后合开关
  • ESD 保护 HBM:2000V

TMUX122-SEP 器件是通用互补金属氧化物半导体 (CMOS) 多路复用器 (MUX)。该器件由单电源(5V 至 15V)、双电源(高达 ±6V)或非对称电源(例如 VDD = 6V,VSS = –3V)供电。宽电源电压范围支持这些器件用于多种航天应用场景。

TMUX122-SEP 可支持源极 (Sx) 和漏极 (Dx) 引脚上从 VSS 到 VDD 范围的双向模拟信号。所有逻辑输入均具有兼容 1.8V 逻辑的阈值,在有效电源电压下运行时,这些阈值与 TTL 和 CMOS 逻辑兼容。

TMUX122-SEP 器件是通用互补金属氧化物半导体 (CMOS) 多路复用器 (MUX)。该器件由单电源(5V 至 15V)、双电源(高达 ±6V)或非对称电源(例如 VDD = 6V,VSS = –3V)供电。宽电源电压范围支持这些器件用于多种航天应用场景。

TMUX122-SEP 可支持源极 (Sx) 和漏极 (Dx) 引脚上从 VSS 到 VDD 范围的双向模拟信号。所有逻辑输入均具有兼容 1.8V 逻辑的阈值,在有效电源电压下运行时,这些阈值与 TTL 和 CMOS 逻辑兼容。

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设计与开发

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评估板

16DYYPWEVM — 面向 SOT-23 薄型 (DYY) 和 TSSOP (PW) 封装的测试板

16DYYPWEVM 测试板提供了两种尺寸的 SOT-23 薄型 (DYY) 和 TSSOP (PW) 封装。  此测试板用于对采用 16 引脚 SOT-23 薄型 (DYY) 和 TSSOP (PW) 封装的集成电路进行快速原型设计和测试。 
用户指南: PDF
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封装 引脚 CAD 符号、封装和 3D 模型
SOT-23-THN (DYY) 16 Ultra Librarian

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