LMG3522R030
- 带集成栅极驱动器的 650V GaN-on-Si FET
- 集成高精度栅极偏置电压
- 200V/ns FET 释抑
- 2MHz 开关频率
- 20V/ns 至 150V/ns 压摆率,用于优化开关性能与缓解 EMI
- 由 7.5V 至 18V 电源供电
- 强大的保护
- 响应时间 < 100ns 的逐周期过流与锁存短路保护
- 硬开关时可承受 720V 浪涌
- 针对内部过热和 UVLO 监控的自我保护
- 高级电源管理
- 数字温度 PWM 输出
- LMG3526R030 包括有助于实现软开关转换器的零电压检测功能 (ZVD)
- LMG3527R030 包括有助于实现软开关转换器的零电流检测功能(ZCD)
- 顶部冷却 12mm × 12mm VQFN 封装将电气路径和散热路径分开,可实现超低的电源环路电感
LMG352xR030 GaN FET 具有集成式驱动器和保护功能,适用于开关模式电源转换器,能够让设计人员实现更高水平的功率密度与效率。
LMG352xR030 集成了一个硅驱动器,可实现高达 150V/ns 的开关速度。与分立式硅栅极驱动器相比,TI 的集成式精密栅极偏置可实现更高的开关 SOA。这种集成特性与 TI 的低电感封装技术相结合,可在硬开关电源拓扑中提供干净的开关和超小的振铃。可调栅极驱动强度允许将压摆率控制在 20V/ns 至 150V/ns 之间,这可用于主动控制 EMI 并优化开关性能。LMG3526R030包含零电压检测(ZVD)功能,能够在实现零电压开关时提供 ZVD 引脚脉冲输出。LMG3527R030 包含零电流检测(ZCD)功能,能够在检测到源极到漏极的正向电流时提供 ZCD 引脚脉冲输出。
高级电源管理功能包括数字温度报告和故障检测。GaN FET 的温度通过可变占空比 PWM 输出进行报告,这可简化器件加载管理。报告的故障包括过流、短路、过热、VDD UVLO 以及高阻抗 RDRV 引脚。
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设计和开发
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用户指南: PDF
仿真模型
LMG3422R0x0 LMG3425R0x0 LMG3522R030 and LMG3522R030-Q1 PLECS Simulation Model
SNOM768.ZIP (340 KB) - PLECS model
计算工具
Device Loss Calculator can be used to evaluate different devices for different topologies of the LLC Resonant Converter
计算工具
SNOR029 — GaN CCM Boost PFC Power Loss Calculation Excel Sheet
支持的产品和硬件
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