LMX2624-SP

プレビュー

5MHz ~ 28GHz、宇宙グレード広帯域シンセサイザ、位相同期および JESD204B 対応

製品詳細

Frequency (max) (MHz) 28000 Frequency (min) (MHz) 5 Normalized PLL phase noise (dBc/Hz) -236 1/f noise (10-kHz offset at 1-GHz carrier) (dBc/Hz) -129 Features Phase synchronization, Programmable output power, SYSREF support (Compliant to JESD204B standard), Space grade Current consumption (mA) 360 Integrated VCO Yes Operating temperature range (°C) 25 to 25 Rating Space Lock time (µs) (typ) (s) Loop BW dependent
Frequency (max) (MHz) 28000 Frequency (min) (MHz) 5 Normalized PLL phase noise (dBc/Hz) -236 1/f noise (10-kHz offset at 1-GHz carrier) (dBc/Hz) -129 Features Phase synchronization, Programmable output power, SYSREF support (Compliant to JESD204B standard), Space grade Current consumption (mA) 360 Integrated VCO Yes Operating temperature range (°C) 25 to 25 Rating Space Lock time (µs) (typ) (s) Loop BW dependent
HTQFP (PAP) 64 144 mm² 12 x 12
  • SMD 5962R2321001PXE
    • 総照射線量耐性:100Krad (ELDRS フリー)
    • シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性:最大 75MeV-cm2/mg
    • シングル イベント機能割り込み (SEFI) 耐性:最大 75MeV-cm2/mg
  • 広帯域周波数シンセサイザ:出力周波数:5MHz~28GHz
  • 24GHz 搬送波周波数使用時に、100kHz のオフセットで -101dBc/Hz の位相ノイズ
  • 24GHz でのジッタ:60fs RMS (1kHz~300MHz)
  • 出力電力をプログラム可能
  • 主な PLL 仕様
    • 性能指数:-236dBc/Hz
    • 正規化 1/f ノイズ:-129dBc/Hz
    • 最高 200MHz の位相検出周波数
  • 複数デバイス間の出力位相の同期
  • RFoutA および RFoutB 用の独立した MUTE ピンで、200ns のミュート / ミュート解除時間
  • 分解能 9ps のプログラム可能な遅延による SYSREF サポート
  • 3.3V 単一電源動作
  • ピン モード:整数 PLL モードでピンにより構成可能な N 分周器および出力分周器
  • 10×10mm² 64 リード QFP パッケージ
  • 動作温度範囲:-55℃~+125℃
  • PLLatinum™ シミュレータ設計ツール対応
  • SMD 5962R2321001PXE
    • 総照射線量耐性:100Krad (ELDRS フリー)
    • シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性:最大 75MeV-cm2/mg
    • シングル イベント機能割り込み (SEFI) 耐性:最大 75MeV-cm2/mg
  • 広帯域周波数シンセサイザ:出力周波数:5MHz~28GHz
  • 24GHz 搬送波周波数使用時に、100kHz のオフセットで -101dBc/Hz の位相ノイズ
  • 24GHz でのジッタ:60fs RMS (1kHz~300MHz)
  • 出力電力をプログラム可能
  • 主な PLL 仕様
    • 性能指数:-236dBc/Hz
    • 正規化 1/f ノイズ:-129dBc/Hz
    • 最高 200MHz の位相検出周波数
  • 複数デバイス間の出力位相の同期
  • RFoutA および RFoutB 用の独立した MUTE ピンで、200ns のミュート / ミュート解除時間
  • 分解能 9ps のプログラム可能な遅延による SYSREF サポート
  • 3.3V 単一電源動作
  • ピン モード:整数 PLL モードでピンにより構成可能な N 分周器および出力分周器
  • 10×10mm² 64 リード QFP パッケージ
  • 動作温度範囲:-55℃~+125℃
  • PLLatinum™ シミュレータ設計ツール対応

LMX2624-SP は、周波数 5MHz~28GHz を出力可能な電圧制御発振器 (VCO) を内蔵した、高性能、広帯域フェーズ ロック ループ (PLL) および電圧レギュレータです。このデバイスの VCO は、1 オクターブの範囲をカバーしているため、最低 5MHz までのすべての周波数を出力できます。-236dBc/Hz という性能指数を持つ高性能 PLL と高い位相検出周波数により、帯域内ノイズと積分ジッタを非常に低く抑えることができます。

LMX2624-SP では、複数のデバイスの出力を同期できます。このため、フラクショナル エンジンまたは出力分周器を使用した場合を含めて、あらゆる使用事例でデバイスから決定性位相を取得できます。このデバイスは、SYSREF (JESD204B/C 規格に準拠) の生成および中継サポートが追加されており、高速データ コンバータ向けの低ノイズ クロック ソースとして設計されています。

このデバイスは、テキサス・インスツルメンツの高度な BiCMOS プロセスで製造され、64 リード QFP プラスチック パッケージで供給されます。

LMX2624-SP は、周波数 5MHz~28GHz を出力可能な電圧制御発振器 (VCO) を内蔵した、高性能、広帯域フェーズ ロック ループ (PLL) および電圧レギュレータです。このデバイスの VCO は、1 オクターブの範囲をカバーしているため、最低 5MHz までのすべての周波数を出力できます。-236dBc/Hz という性能指数を持つ高性能 PLL と高い位相検出周波数により、帯域内ノイズと積分ジッタを非常に低く抑えることができます。

LMX2624-SP では、複数のデバイスの出力を同期できます。このため、フラクショナル エンジンまたは出力分周器を使用した場合を含めて、あらゆる使用事例でデバイスから決定性位相を取得できます。このデバイスは、SYSREF (JESD204B/C 規格に準拠) の生成および中継サポートが追加されており、高速データ コンバータ向けの低ノイズ クロック ソースとして設計されています。

このデバイスは、テキサス・インスツルメンツの高度な BiCMOS プロセスで製造され、64 リード QFP プラスチック パッケージで供給されます。

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技術資料

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設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

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LMX2624-SP evaluation module (EVM) is used to evaluate the performance of the LMX2624-SP device. This device is a space grade RF synthesizer in 10mm x 10mm 64-pin plastic package. LMX2624-SP is able to generate continuous wave signal up to 26GHz. This EVM provides a hardware interface to enable (...)

ユーザー ガイド: PDF | HTML
英語版 (Rev.A): PDF | HTML
サポート・ソフトウェア

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Texas Instruments clocks and synthesizers (TICS) pro software is used to program the evaluation modules (EVMs) for product numbers with these prefixes: CDC, LMK and LMX. These products include phase-locked loops and voltage-controlled oscillators (PLL+VCO), synthesizers and clocking devices.

サポート対象の製品とハードウェア

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設計ツール

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
HTQFP (PAP) 64 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブ拠点
  • アセンブリ拠点

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サポートとトレーニング

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